先端材料精準解析:全方位粒徑分析先進技術與應用  

此研討會讓大家更深入了解如何運用現有平台分析不同類型的材料,探索更多材料精準解析的可能性。 透過國內學界教授的分享,讓大家更了解材料粒徑分析在不同領域的實際應用。此次不僅提供多元的學術交流平台,更讓產學界能夠共同探索粒徑分析的應用範圍與方法。

新 竹 場 次
高 雄 場 次
 
新竹場次
時間:2023/5/31(三),13:00~16:30
地點:集思竹科會議中心 愛因斯坦廳 (新竹市科學園區工業東二路一號/科技生活館2樓)
報到 13:00~13:15
主辦單位開場致詞 13:15~13:20
主題/簡介 講師 時程

日新月異:「界達電位粒徑的最新應用案例」
簡介:為您介紹最前沿的界達電位、粒徑、固體表面電位等項目應用於半導體、生物科技、材料等等領域的最新發展應用。
(中文同步口譯)

橋田紳乃介 負責人
大塚電子株式會社
開發部/應用量測技術組

13:20~14:00

積於跬步:「光散射界達電位粒徑量測」技術介紹
簡介:大塚半世紀累積的光散射量測方法的原理簡述及量測方法介紹,包含於從產品開發到產線上品管的各種使用情境最佳選擇。

賴彥成  副理
大塚科技股份有限公司
營業部

14:00~14:20

粒徑分析儀在脂類藥物開發的應用-經驗分享
Application of particle sizer in lipid-based drug
development- experience sharing

開發脂質奈米藥物需要幾個參數來評估其有效性和安全性,兩個關鍵參數是size分佈和 Zeta potential,我們將分享產品開發中必須考慮的質量控制和知識,提供藥物發開者一個參考方向。

劉俊仁 副教授
臺北醫學大學
醫學檢驗暨生物技術學系

14:20~14:50
QA 14:50~15:00
休息 15:00~15:20

精準數據:「AI動態影像粒子」分析攻略
詳解如何透過獨家EDOF技術大幅提升粒徑分析可靠度,解析最精準之粒子相關數據。

林鈺凱 研發博士
邑流微測股份有限公司
解決方案部 

15:20~15:50

關鍵突破:「高階液態材料如何於SEM底下維持原貌」技術說明
突破性液態檢測解決方案Flow AOI,橫跨研發到即時監控(含in-situ液態SEM、智慧化產線多通道粒子量測、電化學...),非常適合高階材料研發、濕製程微汙染監測等應用。

施敏權副理
邑流微測股份有限公司
解決方案部 

15:50~16:20
QA 16:20~16:30
 
 
高雄場次
時間:2023/6/1(四),08:30~12:00
地點:高雄國際會議中心 (高雄市鹽埕區中正四路274號)
報到 08:30~08:45
主辦單位開場致詞 08:45~08:50
主題/簡介 講師 時程

日新月異:「界達電位粒徑的最新應用案例」
簡介:為您介紹最前沿的界達電位、粒徑、固體表面電位等項目應用於半導體、生物科技、材料等等領域的最新發展應用。(中文同步口譯)

橋田紳乃介 負責人
大塚電子株式會社
開發部/應用量測技術組

08:50~09:30

積於跬步:「光散射界達電位粒徑量測」技術介紹
簡介:大塚半世紀累積的光散射量測方法的原理簡述及量測方法介紹,包含於從產品開發到產線上品管的各種使用情境最佳選擇。

賴彥成  副理
大塚科技股份有限公司
營業部

09:30~09:50

測量介面電位對於奈米材料應用的重要性
藉由介面電位量測數據,可以提供材料表面電荷和穩定性等重要資訊,從而理解與判斷在奈米材料中,表面電荷在控制分散、穩定性以及相互作用方面扮演的角色。同時,奈米材料在生物體中的行為與其表面性質相關,介面電位對於評估材料的潛在毒性,在生醫應用上也是至關重要的。

曾韋龍
國立中山大學
化學系 特聘教授

09:50~10:20
QA 10:20~10:30
休息 10:30~10:50

精準數據:「AI動態影像粒子」分析攻略
詳解如何透過獨家EDOF技術大幅提升粒徑分析可靠度,解析最精準之粒子相關數據。

林鈺凱 研發博士
邑流微測股份有限公司
解決方案部 

10:50~11:20

關鍵突破:「高階液態材料如何於SEM底下維持原貌」技術說明
突破性液態檢測解決方案Flow AOI,橫跨研發到即時監控(含in-situ液態SEM、智慧化產線多通道粒子量測、電化學...),非常適合高階材料研發、濕製程微汙染監測等應用。

施敏權副理
邑流微測股份有限公司
解決方案部 

11:20~11:50
QA 11:50~12:00
 
 
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研討會諮詢專線: Laura Chan 詹小姐 02-87512323#1171 laura.chan@scientech.com.tw