自強課程

課程名稱
《智慧電子人才應用發展推動計畫》AOI自動光學檢測(實作)

※早安鳥方案:於4/28 前(含) 報名,可享超值優惠價3,000元。
全額學費7000元 ; 工業局已補助50%,學員只需自費3500元
*任職於智慧電子業優先錄取*
全額學費7000元 ; 工業局已補助50%,學員只需自費3500元
*任職於智慧電子業優先錄取*
課程代碼:
10A304
上課時間:
110/05/11~06/01,每周二,18:30~21:30,共四週12小時。
上課時數:
12 小時
課程費用:
3500元
(符合超值優惠價格者需送出報名表後,系統發出報名成功回函確認金額。)
課程目標:
本課程將介紹電腦視覺的觀念、方法、相關演算法,以及自動光學檢測系統所使用之軟硬體設備,目的是讓學員在了解一些基本原理後,能夠迅速的將自動光學檢測技術應用在實務上,解決品質檢測上所遭遇到的問題。
課程特色:
自動光學檢測是電腦視覺最重要的應用之一,其技術在工業自動化上扮演極為重要的角色。本課程的特色是沒有複雜的數學式,即使有也會以簡單易懂的方式說明,此外也會提供一些程式範例,讓學員快速了解工業界經常使用的一些自動光學檢測方法與原理。
修課條件:
1.大專以上理工科畢
2.本課程適合有意投入自動光學檢測產業,或想進一步了解自動光學檢測原理與應用之人士參加。學員將使用C語言編寫取像及簡單的視覺檢測程式。
2.本課程適合有意投入自動光學檢測產業,或想進一步了解自動光學檢測原理與應用之人士參加。學員將使用C語言編寫取像及簡單的視覺檢測程式。
課程大綱:
(1).自動光學檢測簡介
自動光學檢測(AOI)的定義、AOI系統的組成要件、AOI的功能、AOI的應用
、AOI的現況、AOI的未來。
(2).AOI系統的規劃與設計:
成像原理、攝影機的種類、鏡頭的種類、影像攫取卡的種類、光源的樣式與類別
、AOI系統的種類、智慧攝影機。
(3).影像處理與分析:
影像的運算、迴旋積運算、直方圖修正、影像濾波、影像分割、形態處理、
物件標號、程式實作。
(4).二維尺寸量測技術:
一階導數邊界運算子(Sobel、Prewitt、 Robert)、二階導數邊界運算子
(Laplacian、LOG)、鏈碼輪廓追蹤法、曲線擬合(Least Square Method,
Hough Transform)、二維影像尺寸量測(線寬、線距、孔徑、長、寬等)、
程式實作。
(5).二維表面瑕疵檢測技術:
參考比對法、非參考比對法、影像對正(空間轉換模型、特徵抽取與匹配、
空間座標轉換參數計算、空間座標轉換)、瑕疵檢測案例解析。
(6).二維表面瑕疵分類技術:
特徵抽取與分析(周長、離心率、真圓度、粗糙度、長短距離比角數、尤拉數
、灰階標準差等);分類技術(最近鄰分類器、K-NN分類器、類神經網路分類等)
、瑕疵分類案例解析。
自動光學檢測(AOI)的定義、AOI系統的組成要件、AOI的功能、AOI的應用
、AOI的現況、AOI的未來。
(2).AOI系統的規劃與設計:
成像原理、攝影機的種類、鏡頭的種類、影像攫取卡的種類、光源的樣式與類別
、AOI系統的種類、智慧攝影機。
(3).影像處理與分析:
影像的運算、迴旋積運算、直方圖修正、影像濾波、影像分割、形態處理、
物件標號、程式實作。
(4).二維尺寸量測技術:
一階導數邊界運算子(Sobel、Prewitt、 Robert)、二階導數邊界運算子
(Laplacian、LOG)、鏈碼輪廓追蹤法、曲線擬合(Least Square Method,
Hough Transform)、二維影像尺寸量測(線寬、線距、孔徑、長、寬等)、
程式實作。
(5).二維表面瑕疵檢測技術:
參考比對法、非參考比對法、影像對正(空間轉換模型、特徵抽取與匹配、
空間座標轉換參數計算、空間座標轉換)、瑕疵檢測案例解析。
(6).二維表面瑕疵分類技術:
特徵抽取與分析(周長、離心率、真圓度、粗糙度、長短距離比角數、尤拉數
、灰階標準差等);分類技術(最近鄰分類器、K-NN分類器、類神經網路分類等)
、瑕疵分類案例解析。
課程師資:
自強基金會 專業講師
專長:自動光學檢測、電腦輔助設計、瑕疵偵測與分類
專長:自動光學檢測、電腦輔助設計、瑕疵偵測與分類
主辦單位:
經濟部工業局
承辦單位:
財團法人資訊工業策進會
執行單位:
財團法人自強工業科學基金會
學員須知: