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自強課程
課程名稱
【竹科管理局補助課程】可靠度驗證及失效機制分析:從矽(Silicon)到超越摩爾定律半導體技術
熱烈招生中
課程代碼：
13S338
上課時間：
113/8/14(三)09:00-12:00，共3小時
上課時數：
3 小時
課程費用：
(以下費用已由竹科管理局補助80%)
2500元
(科學園區廠商優惠價格需送出報名表後，系統發出報名成功回函確認金額。)
超值優惠：
課程目標：
高可靠度是所有半導體產品成功的重要因素，因為可靠度與客戶對產品的信任有關。本課程中將深入淺出的介紹基本半導體元件可靠度議題及評估所需的統計分析。此外，本課程也將會探討矽元件最常見的可靠度議題（依時性介電質崩潰、界面缺陷與偏壓溫度不穩定性）及超越摩爾定律(More-than-Moore)半導體技術的可靠度議題(以GaN/SiC化合物半導體為例)。
課程大綱：
1.半導體元件可靠度概述及可靠度統計分析介紹
2.依時性介電質崩潰(Time dependent dielectric breakdown )
3.界面缺陷與偏壓溫度不穩定性 (Interface traps & Bias temperature
instability)
4.超越摩爾定律(More-than-Moore)半導體技術的可靠度議題（GaN/SiC化
合物半導體為例）
2.依時性介電質崩潰(Time dependent dielectric breakdown )
3.界面缺陷與偏壓溫度不穩定性 (Interface traps & Bias temperature
instability)
4.超越摩爾定律(More-than-Moore)半導體技術的可靠度議題（GaN/SiC化
合物半導體為例）
課程師資：
講師：吳添立教授
學歷：比利時魯汶大學電子工程系博士
專長：GaN and SiC for power/6G applications、Sub-5 nm beyond
CMOS、Reliability evaluation and degradation analysis、AI-
assisted device design and reliability predictions
現任：國立陽明交通大學國際半導體產業學院 副教授
科技部"次世代化合物半導體前瞻研發專案計畫"專案執行長
英國高等教育學會院士(HEA Fellow)
學歷：比利時魯汶大學電子工程系博士
專長：GaN and SiC for power/6G applications、Sub-5 nm beyond
CMOS、Reliability evaluation and degradation analysis、AI-
assisted device design and reliability predictions
現任：國立陽明交通大學國際半導體產業學院 副教授
科技部"次世代化合物半導體前瞻研發專案計畫"專案執行長
英國高等教育學會院士(HEA Fellow)
主辦單位:
國家科學及技術委員會新竹科學園區管理局
執行單位：
財團法人自強工業科學基金會
學員須知：
注意事項
※請前往竹科管理局廠商與單位名錄進行查詢，即可判斷公司是否為園區內廠商。
- 本計畫鼓勵女性學員報名參加培訓課程，必要時得優先錄取。
- 本計畫以竹科園區事業單位從業員工為主優先錄取，若有名額將開放有志進入園區就業人士報名參加。
- 防疫期間如有居家隔離、居家檢疫、自主健康管理且有呼吸道感染症狀等情形者，務必遵守中央流行疫情指揮中心防疫措施，請勿出席。
- 若遇不可預測之突發因素，基金會保有相關課程調整、取消及講師之變動權。
- 無紙化環境，輕鬆達到減碳救地球，即日起16小時以上課程結業證書或未達16小時課程上課證明皆以電子方式提供。
- 本課程不適用廠商VIP折扣優惠
- 課前請詳閱簡章之課程內容或利用課程諮詢電話。
- 課程嚴禁旁聽，亦不可攜眷參與。
- 優惠方案擇一使用。
