自強課程

課程名稱
【補助申請中】IC測試及檢測設備實務 熱烈招生中
⭐⭐《企業內訓應援》詳見注意事項 ⭐⭐
 課程代碼:
15S357
 上課時間:
115/7/3,週五,09:00-17:00,共7小時 
 上課時數:
7 小時
 課程費用:
6000元 (符合超值優惠價格者需送出報名表後,系統發出報名成功回函確認金額。)
 課程目標:
隨著半導體製程與封裝技術的持續發展,半導體測試的重要性益加顯著,並成為半導體產業鏈中的技術關鍵。本課程特別介紹半導體主要測試設備包括 Tester、Prober、Handler的基本原理,及晶圓和 IC Package 自動光學檢測 (AOI) 設備的組成與應用實務。
 修課條件:
對半導體測試設備原理、應用有興趣人士,或從事半導體測試及設備維護相關工作之人員,具理工背景為佳。
 課程大綱:
1.Semiconductor ATE & Inspection System Overview
2.Basic IC Tester Structure Overview
3.Fundamental of IC Tester Instrument Theory
4.Wafer Prober Overview
5.IC Handler Overview
6.Wafer Inspection System Overview
7.IC Package Inspection System Overview
 課程師資:
講師:自強基金會 專業講師
專長:IC測試、ATE、Probe Card
  注意事項
📌課程費用包含:講義及稅。《不提供午餐》
📌計畫補助課程不適用於其他基金會優惠方案及不可使用紅利點數折抵費用。
📌計畫補助課程《確定開課》/《線上課程講義寄出》後,若因故無法上課,則不予退費。

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  • 若遇不可預測之突發因素,基金會保有相關課程調整、取消及講師之變動權。
  • 無紙化環境,輕鬆達到減碳救地球,即日起16小時以上課程結業證書或未達16小時課程上課證明皆以電子方式提供。
  • 本課程不適用廠商VIP折扣優惠
  • 課前請詳閱簡章之課程內容或利用課程諮詢電話。
  • 課程嚴禁旁聽,亦不可攜眷參與。
  • 優惠方案擇一使用。
  • 課程查詢或相關作業時程,請洽以下聯絡窗口。
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