自強課程

課程名稱
晶圓測試驗證: WAT 測試數據與 Spice Model 之關聯性
熱烈招生中
2025全新課程
課程代碼:
14S062
上課時間:
2025/7/3(四)7/4(五)9:00~16:00共12小時
上課時數:
12 小時
上課地點:
課程費用:
11000元
(符合超值優惠價格者需送出報名表後,系統發出報名成功回函確認金額。)
超值優惠:
- VIP企業會員價:VIP企業會員可享優惠價格 (按我)
- 會員優惠價: 會員於開課前七天完成報名繳費者可享會員優惠價 10500 元
- 會員紅利折抵:本課程歡迎使用紅利折抵,最高可使用 100 點
課程目標:
本課程旨在深入探討晶圓 WAT 測試數據與 Spice 模型之間的關聯性,並透過理論與實務應用,提升電子電路元件模擬的準確性與可靠性。學員將學習晶圓 WAT 測試的基本原理與數據分析方法,其中並熟悉晶圓 WAT 測試中各物理參數的定義與測試方式,理解其在 IC 設計與製造流程中的關鍵角色。此外,課程將介紹如何將 WAT 測試數據有效應用於 Spice 模型的建立與驗證,幫助學員掌握從晶圓測試到電路模擬的完整流程,進而提升電子元件的設計品質與製造良率。
修課條件:
現職從事積體電路IC與電子產品之RD設計、佈局、測試、產品應用與品管、品保、FA相關技術人員 。
理工科系畢業有興趣學員,現職科技公司工程師,或適合新進工程師。
理工科系畢業有興趣學員,現職科技公司工程師,或適合新進工程師。
課程大綱:
1. 理解晶圓 WAT 測試在 IC 設計流程中的重要性。
2. 瞭解 Spice 模型的建構原理與實際應用。
3. 熟悉晶圓 WAT 測試中各物理參數的定義與測試方法。
4. 掌握如何利用晶圓 WAT 測試數據來建立與驗證 Spice 模型。
5. 培養將電子電路設計與晶圓製造端相結合的能力。
2. 瞭解 Spice 模型的建構原理與實際應用。
3. 熟悉晶圓 WAT 測試中各物理參數的定義與測試方法。
4. 掌握如何利用晶圓 WAT 測試數據來建立與驗證 Spice 模型。
5. 培養將電子電路設計與晶圓製造端相結合的能力。
課程師資:
自強基金會專業講師
主辦單位:
財團法人自強工業科學基金會
學員須知:
注意事項