自強課程

課程名稱

【線上課程】積體電路製程與故障分析技術熱烈招生中全線上

⭐早早鳥優惠⭐6/5前報名享早早鳥優惠價$7,000元

課程代碼：

14S350

上課時間：

114/7/3(四)、7/4(五)，09:00-16:00，共兩天12小時

上課時數：

12 小時

上課地點：

網路線上

課程費用：

9000元 (符合超值優惠價格者需送出報名表後，系統發出報名成功回函確認金額。)

超值優惠：

VIP企業會員價：VIP企業會員可享優惠價格 (按我)
會員優惠價： 會員於開課前七天完成報名繳費者可享會員優惠價 8100 元
早安鳥方案：會員於開課二週前(含)報名並完成繳費，可享超值優惠價 7700 元
會員紅利折抵：本課程歡迎使用紅利折抵，最高可使用 50 點

課程目標：

本課程的重點在於講解如何設計監控的查核點(WAT)以及調整查核點(WAT)的嚴謹程度、解說與推論積體電路故障的成因。並探討該用什麼方法找出問題，藉此來修正製程流程．也會針對產品等級的測試(CP)方法與製程關係進行解說。課程中會解說半導體元件或電路中與可靠度相關的知識與名詞，讓剛踏入這個領域的人員可以快速吸收從製程開始到產品完成過程中良率、故障與可靠度分析的所有專業知識，最後說明目前業界經常使用的故障分析工具來強化工作上的實戰經驗，讓分析理論與工作實務得到驗證。

課程大綱：

1.半導體製程量測(著重產線過程中的分析監控量測與良率關係)
-積體電路製程流程概述
-WAT (wafer acceptable test)觀念
-製程過程中的量測技術
-設計準則 (Design Rule)

2.IC故障分析(著重在故障成因與良率關係)
-良率的概念
-良率與故障分析流程
-故障案例分析
-晶圓測試相關流程與測試靈敏度(test marginality、shomo plot)

3.半導體材料分析技術與應用(著重在材料分析常用設備與技術)
-Application of Emission Microscopy (EMMI)
-Beam-injection Analysis in Materials
-Application of Scanning Electron Microscope (SEM)
-Application of Dual-beam Focus Ion Beam (DB-FIB)
-Voltage Contrast (VC)

4.可靠度與封裝(著重在材料分析常用設備與技術)
-半導體IC元件基本可靠度問題-封裝體分析流程

課程師資：

講師：自強基金會邱教授
專長：半導體元件物理、發光二極體開發、積體電路故障分析、半導體材料分析

學員須知：

報名與繳退費方法｜常見問題與解決｜會員紅利積點活動辦法

注意事項

清華大學學生優惠方案：清華大學學生可享課程最低優惠價─VIP企業會員優惠價，完成報名後須來電告知修改費用(使用本優惠價須於報名同時檢附在學中有效的清華大學學生證，且不得開立抬頭「國立清華大學」以外的三聯式公司發票)。

✨針對園區廠商提供企業內訓課程規劃並享有優惠方案，若有需求可洽03-5623116分機3610鄒小姐。

若遇不可預測之突發因素，基金會保有相關課程調整、取消及講師之變動權。

無紙化環境，輕鬆達到減碳救地球，即日起16小時以上課程結業證書或未達16小時課程上課證明皆以電子方式提供。

使用VIP廠商優惠之學員，上課當日報到時須查核該公司識別證(相關證明資料)。

會員紅利折抵限以原價或會員優惠價再折抵，其他方案不適用。

課前請詳閱簡章之課程內容或利用課程諮詢電話。