自強課程

課程名稱
探針卡技術與實務
熱烈招生中
課程代碼:
14S356
上課時間:
114/7/24,週四 09:00-16:00,共6小時
上課時數:
6 小時
課程費用:
4000元
(符合超值優惠價格者需送出報名表後,系統發出報名成功回函確認金額。)
超值優惠:
- VIP企業會員價:VIP企業會員可享優惠價格 (按我)
- 會員優惠價: 會員於開課前七天完成報名繳費者可享會員優惠價 3800 元
- 早安鳥方案:會員於開課二週前(含)報名並完成繳費,可享超值優惠價 3600 元
- 會員紅利折抵:本課程歡迎使用紅利折抵,最高可使用 50 點
課程目標:
本課程針對從事IC測試或相關領域者,能進一步瞭解針測卡的原理、應用與技術發展,以及先進封裝與量產測試的針測解決方案與挑戰。
課程特色:
隨著半導體製程與封裝技術朝向更輕薄短小的方向持續發展,晶圓測試的需求與技術已成為半導體產業鏈不可或缺的關鍵。而針測卡的技術演進在晶圓測試中扮演非常重要的角色。本課程以深入淺出方式介紹針測卡相關的原理、應用技術。
修課條件:
對針測卡的原理、設計、應用有興趣,或從事半導體晶圓測試相關從業人員,具理工背景為佳。
課程大綱:
1.Probe Card Overview
2.Probe Card Types & Application
3.Cantilever Probe Card
4.Vertical Probe Card
5.Probe Card Measurement & Maintenance
6.Production Probe Card Design Plan
7.Advanced Probe Card Trend
8.Advanced 3DIC Probing Challenges
2.Probe Card Types & Application
3.Cantilever Probe Card
4.Vertical Probe Card
5.Probe Card Measurement & Maintenance
6.Production Probe Card Design Plan
7.Advanced Probe Card Trend
8.Advanced 3DIC Probing Challenges
課程師資:
講師:自強基金會 專業講師
專長:IC測試、ATE、Probe Card
專長:IC測試、ATE、Probe Card
學員須知:
注意事項