自強課程

課程名稱
IC測試及檢測設備實務
熱烈招生中
課程代碼:
14S357
上課時間:
114/6/12,週四 09:00-17:00,共7小時
上課時數:
7 小時
課程費用:
5000元
(符合超值優惠價格者需送出報名表後,系統發出報名成功回函確認金額。)
超值優惠:
- VIP企業會員價:VIP企業會員可享優惠價格 (按我)
- 會員優惠價: 會員於開課前七天完成報名繳費者可享會員優惠價 4800 元
- 早安鳥方案:會員於開課二週前(含)報名並完成繳費,可享超值優惠價 4600 元
- 會員紅利折抵:本課程歡迎使用紅利折抵,最高可使用 50 點
課程目標:
隨著半導體製程與封裝技術的持續發展,半導體測試的重要性益加顯著,並成為半導體產業鏈中的技術關鍵。本課程特別介紹半導體主要測試設備包括 Tester、Prober、Handler的基本原理,及晶圓和 IC Package 自動光學檢測 (AOI) 設備的組成與應用實務。
修課條件:
對半導體測試設備原理、應用有興趣人士,或從事半導體測試及設備維護相關工作之人員,具理工背景為佳。
課程大綱:
1.Semiconductor ATE & Inspection System Overview
2.Basic IC Tester Structure Overview
3.Fundamental of IC Tester Instrument Theory
4.Wafer Prober Overview
5.IC Handler Overview
6.Wafer Inspection System Overview
7.IC Package Inspection System Overview
2.Basic IC Tester Structure Overview
3.Fundamental of IC Tester Instrument Theory
4.Wafer Prober Overview
5.IC Handler Overview
6.Wafer Inspection System Overview
7.IC Package Inspection System Overview
課程師資:
講師:自強基金會 專業講師
專長:IC測試、ATE、Probe Card
專長:IC測試、ATE、Probe Card
學員須知:
注意事項