自強課程

課程名稱

【竹科管理局補助課程】半導體業可靠度工程與產品生命期預測熱烈招生中

📢早鳥方案於 5/26 前報名：
🥇園區內：1500元
🥈園區外：3000元

※任職於【科學園區廠商】優先錄取!
※早鳥優惠價統一於確定開課後修改金額!

💥上課出席率需達７５％💥

課程代碼：

14S367

上課時間：

114/6/28-7/5，週六 09:00~17:30，共2週15小時

上課時數：

15 小時

上課地點：

清華大學第四綜合大樓(清華大學東側門入口處左手邊即為自強基金會大門入口/清大郵局左側)

課程費用： (以下費用已由竹科管理局補助80%)

3500元 (科學園區廠商優惠價格需送出報名表後，系統發出報名成功回函確認金額。)

超值優惠：

科學園區廠商優惠價： 2000 元(★繳費完成才算報名成功喔★)

課程目標：

1.瞭解半導體可靠度工程
2.瞭解可靠度相關統計數學
3.瞭解可靠度測試方法、加速生命測試及如何決定出產品生命期預估
4.瞭解製程/元件/封裝(系統)級相關的各可靠度應力測試及生命期預估

修課條件：

半導體產業暨相關系統業者之在職人士或有相關技術需求者。

課程大綱：

1.Introduction to Semiconductor Reliability Engineering(半導體可靠度工程介紹)
2.Reliability Functions for Data Analysis(數據分析的可靠度函數)
■Introduction
■Reliability statistics model and examples
3.Reliability Acceleration Model and Life-time Prediction(可靠度加速模型及生命期預測)
■Reliability -Acceleration model
■Life-time prediction and examples
4.Process Reliability Stress Tests(製程級相關可靠度電應力測試)
■Time-dependent dielectric breakdown & life time prediction
■Electromigration & life time prediction
5.Device/Package Reliability Stress Tests(封裝後元件級相關可靠度電應力測試)
■Hot-carrier effect & life time prediction
■Negative-bias temperature instability & life time prediction
■ESD & Latch-up testing
6.Power Device/Package(System)Reliability Stress Tests(功率組件/封裝(系統)級相關可靠度測試)
■Package reliability life test
Ex.: Power MOSFET life test
■THB, HTOL testing & life time prediction
■Failure rate estimation by statistical method
■Environmental/Storage/Mechanical test items

課程師資：

自強基金會陳老師
現任：國立大學電機資訊學院教授
學歷：國立清華大學電機工程學系博士
專長：ESD/ LU防護電路設計, 電力電子, 可靠度工程, VLSI製程/測試

主辦單位:

國家科學及技術委員會新竹科學園區管理局

執行單位：

財團法人自強工業科學基金會