自強課程

課程名稱

先進半導體材料分析原理與趨勢-電子顯微鏡分析配件篇(線上) 熱烈招生中

全線上

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課程代碼：

15S337

上課時間：

115/10/24，週六，09:00-16:00，共6小時

上課時數：

6 小時

上課地點：

網路線上

課程費用：

4500元 (符合超值優惠價格者需送出報名表後，系統發出報名成功回函確認金額。)

超值優惠：

VIP企業會員價：VIP企業會員可享優惠價格 (按我)
會員優惠價： 會員於開課前七天完成報名繳費者可享會員優惠價 4200 元
早安鳥方案：會員於開課二週前(含)報名並完成繳費，可享超值優惠價 4000 元
會員紅利折抵：本課程歡迎使用紅利折抵，最高可使用 50 點

課程目標：

電子顯微鏡已從「高解析影像工具」演進為整合式材料定量分析平台。現代SEM與TEM不僅提供奈米至原子尺度結構資訊，更整合能量散射、電子繞射與光學訊號分析技術，例如EDS、EBSD、CL與EELS，使研究者能同步獲得成分、晶體結構、電子態與光學特性等多維資訊。在先進半導體製程、功率元件、化合物半導體與新興量子材料快速發展下，電子顯微鏡正朝向高靈敏度探測器、快速數據處理與AI定量分析平台演進。本課程將系統性介紹各種電子顯微鏡分析技術之發展歷史、儀器結構、物理原理、數據處理流程、工業應用案例與未來趨勢。

完成本課程後，學員將能：
1.說明EDS、EBSD、CL、EELS之發展歷史與技術演進脈絡
2.理解各分析模組之儀器結構與訊號產生機制
3.掌握各技術之基本物理原理與解析限制
4.理解儀器數據處理與定量分析流程
5.分析不同技術於材料與半導體產業之應用情境
6.評估不同分析技術的優缺點與選用策略
7.理解電子顯微鏡多模態整合發展趨勢
8.建立未來材料分析平台發展的技術視野

課程大綱：

1.電子顯微鏡分析技術總覽
2.EDS（能量散射X光光譜）
3.EBSD（電子背向散射繞射）
4.CL（陰極發光）
5.EELS（電子能量損失光譜）
6.多模態整合分析平台
7.工業應用整合案例
8.未來發展趨勢

課程師資：

講師：自強基金會專業講師
專長：半導體儀器與計量技術開發、先進電子顯微鏡技術理論與實務、高階材料分析技術理論與實務、材料導論、材料分析、碳基奈米材料、高分子奈米複合材料與半導體元件材料。
現任：工業技術研究院量測中心組長、台灣顯微鏡學會理事長

相關課程：

15S336 先進材料分析原理與趨勢-電子顯微鏡篇

學員須知：

報名與繳退費方法｜常見問題與解決｜會員紅利積點活動辦法

注意事項

清華大學學生優惠方案：清華大學學生可享課程最低優惠價─VIP企業會員優惠價，完成報名後須來電告知修改費用(使用本優惠價須於報名同時檢附在學中有效的清華大學學生證，且不得開立抬頭「國立清華大學」以外的三聯式公司發票)。

若遇不可預測之突發因素，基金會保有相關課程調整、取消及講師之變動權。

無紙化環境，輕鬆達到減碳救地球，即日起16小時以上課程結業證書或未達16小時課程上課證明皆以電子方式提供。