自強課程
課程名稱
IC測試實務
如期開班
課程代碼:
13S322
上課時間:
113/6/06、6/13 週四,09:30-16:30,共兩天12小時
上課時數:
12 小時
課程費用:
8000元
(符合超值優惠價格者需送出報名表後,系統發出報名成功回函確認金額。)
超值優惠:
- VIP企業會員價:VIP企業會員可享優惠價格 (按我)
- 會員優惠價: 會員於開課前七天完成報名繳費者可享會員優惠價 7500 元
- 早安鳥方案:會員於開課二週前(含)報名並完成繳費,可享超值優惠價 7200 元
- 五一加職金優惠價: 優惠價再減 300 元(★不能再折抵紅利點數,繳費完成才算報名成功喔★) ※主辦單位保有最終修改、變更、活動解釋及取消本活動之權利,若有相關異動將會公告於網站,恕不另行通知。
課程目標:
本課程針對從事IC測試相關工作、或相關領域者,能進一步瞭解IC測試原理、實務應用、量產測試、生產管理以及先進封裝測試的解決方案與挑戰。
課程特色:
隨著半導體製程與封裝技術朝向更輕薄短小的方向持續發展,IC測試需求與技術已成為半導體產業更重要的關鍵。本課程將著重在IC測試實務上,應該瞭解的基本測試原理、實務應用與解決方案。
修課條件:
針對新進測試工程師、測試設備工程師的專業進修,或對IC測試原理、應用及測試生產管理有興趣人士,具理工背景為佳。
課程大綱:
1.IC Testing Overview
2.Basic Test Concepts
3.Basic DC/AC/ Functional Tests
4.Test Program Development Overview
5.Test Pattern & DFT Overview
6.Testing Debugging & Troubleshooting
7.Production Test Overview
8.Test Economics
9.Advanced Package Testing Challenges
2.Basic Test Concepts
3.Basic DC/AC/ Functional Tests
4.Test Program Development Overview
5.Test Pattern & DFT Overview
6.Testing Debugging & Troubleshooting
7.Production Test Overview
8.Test Economics
9.Advanced Package Testing Challenges
課程師資:
講師:自強基金會 專業講師
專長:IC測試、ATE、Probe Card
專長:IC測試、ATE、Probe Card
學員須知:
注意事項