自強課程

課程名稱

【竹科管理局線上補助課程】先進半導體材料分析原理與趨勢熱烈招生中全線上

📑計畫名額有限，請盡速報名‼

課程代碼：

13S339

上課時間：

113/6/22，週六 09:00-12:00，共3小時

上課時數：

3 小時

上課地點：

網路

課程費用： (以下費用已由竹科管理局補助80%)

2000元 (科學園區廠商優惠價格需送出報名表後，系統發出報名成功回函確認金額。)

超值優惠：

科學園區廠商優惠價： 1500 元(★繳費完成才算報名成功喔★)

課程目標：

隨著先進製程的複雜度增加以及半導體電晶體尺寸的持續縮小，半導體元件中各層次的材料微細尺寸和微量元素分布發生變化，對積體電路的電性影響日益顯著。在先進半導體研發階段運用先進材料分析技術，來解析與掌握先進半導體材料特性對於材料研發來說非常重要。基礎班課程將介紹材料分析三大基礎架構:1.顯微學、2.光(能)譜譜學與3.繞射學，解釋其基本原理和應用，並通過了解材料分析儀器的特性和功能，建立學員正確解讀材料分析影像、光(能)譜等資料數據的學理基礎。
本課程目標如下：
1.瞭解先進半導體材料分析基本概念
2.建立正確的先進半導體材料分析原理
3.瞭解先進半導體材料分析儀器的特性
4.掌握各類型材料分析在半導體材料之應用

課程大綱：

1.先進半導體材料分析基本概念
2.先進半導體材料顯微技術原理與應用
3.先進半導體材料光(能)譜技術原理與應用
4.先進半導體材料繞射技術原理與應用

課程師資：

講師：羅聖全
學歷：國立清華大學工程與系統科學博士
專長：先進電子顯微鏡技術理論與實務、高階材料分析技術理論與實務、材料
導論、材料分析、碳基奈米材料、高分子奈米複合材料與半導體元件材料
現任：工業技術研究院材料與化工研究所副組長/台灣顯微鏡學會理事長

主辦單位:

國家科學及技術委員會新竹科學園區管理局

執行單位：

財團法人自強工業科學基金會

學員須知：

報名與繳退費方法｜常見問題與解決｜會員紅利積點活動辦法

注意事項

※請前往竹科管理局廠商與單位名錄進行查詢，即可判斷公司是否為園區內廠商。