自強課程
課程名稱
半導體材料分析原理與應用
熱烈招生中
⭐早鳥優惠價⭐12/30前報名
特價9,500元❗
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課程代碼:
13S342
上課時間:
114/3/15(六)、3/22(六),09:00-16:00
共兩天12小時
共兩天12小時
上課時數:
12 小時
課程費用:
12000元
(符合超值優惠價格者需送出報名表後,系統發出報名成功回函確認金額。)
超值優惠:
- VIP企業會員價:VIP企業會員可享優惠價格 (按我)
- 會員優惠價: 會員於開課前七天完成報名繳費者可享會員優惠價 11000 元
- 早安鳥方案:會員於開課二週前(含)報名並完成繳費,可享超值優惠價 10500 元
- 會員紅利折抵:本課程歡迎使用紅利折抵,最高可使用 100 點
課程目標:
隨著半導體積體電路的尺寸日趨縮小,半導體元件中各層次的微細尺寸與微量元素分布變化,對積體電路電性的影響愈來愈大。因此各類型微結構與組成之材料分析技術對於掌握新元件和新製程之開發愈形重要。本課程將介紹材料分析基本原理與應用、透過瞭解材料分析儀器的特性與功能,建立學員正確解讀材料分析影像、光(能)譜等資料數據之學理基礎。
本課程目標如下:
1.建立正確的半導體材料分析概念
2.瞭解常用半導體材料分析儀器的特性
3.掌握先導體材料與半導體檢測分析發展趨勢與其應用
4.學習如何正確解釋材料分析資料,獲取正確的材料訊息,助益半導體製程改善
本課程目標如下:
1.建立正確的半導體材料分析概念
2.瞭解常用半導體材料分析儀器的特性
3.掌握先導體材料與半導體檢測分析發展趨勢與其應用
4.學習如何正確解釋材料分析資料,獲取正確的材料訊息,助益半導體製程改善
課程大綱:
1.半導體材料微結構分析技術
- XRD
- XCT
- AFM
- SCM
- SEM
- FIB
- TEM
2.半導體材料組成分析技術
-AES
-XPS
-SIMS
-EDS
-EELS
-Raman
-FTIR
3.半導體材料分析發展趨勢
- XRD
- XCT
- AFM
- SCM
- SEM
- FIB
- TEM
2.半導體材料組成分析技術
-AES
-XPS
-SIMS
-EDS
-EELS
-Raman
-FTIR
3.半導體材料分析發展趨勢
課程師資:
講師:自強基金會 專業講師
專長:先進電子顯微鏡技術理論與實務、高階材料分析技術理論與實務、材料導論、材料分析、碳基奈米材料、高分子奈米複合材料與半導體元件材料。
專長:先進電子顯微鏡技術理論與實務、高階材料分析技術理論與實務、材料導論、材料分析、碳基奈米材料、高分子奈米複合材料與半導體元件材料。
學員須知:
注意事項